图书介绍
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- 戎咏华编著 著
- 出版社: 北京:高等教育出版社
- ISBN:7040199424
- 出版时间:2006
- 标注页数:499页
- 文件大小:34MB
- 文件页数:511页
- 主题词:电子显微镜分析-研究生-教材
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图书目录
绪论1
第一章 分析电子显微镜的构造及其功能4
1.1 电子波长和电磁透镜4
1.1.1 电子波长4
1.1.2 电磁透镜6
1.2 构造及其特性10
1.2.1 照明系统11
1.2.2 多功能样品室16
1.2.3 成像系统17
1.2.4 图像观察与记录系统18
1.2.5 真空和供电系统20
1.2.6 仪器的计算机控制和分析数据的计算机处理20
1.3 成像、变倍和衍射实现的原理22
1.4 理论分辨本领极限25
参考文献27
2.1 表面复型技术28
第二章 透射电子显微镜样品的制备方法28
2.1.1 一级复型30
2.1.2 塑料-碳二级复型33
2.1.3 抽取复型35
2.2 粉末样品和薄膜样品的制备37
2.2.1 粉末样品的制备37
2.2.2 薄膜样品的制备37
2.3.1 金属块体制成薄膜样品40
2.3 块体样品制成薄膜的技术40
2.3.2 无机非金属块体制成薄膜样品45
2.3.3 高分子块体制成薄膜样品48
2.3.4 聚焦离子束方法49
参考文献52
第三章 电子衍射54
3.1 电子衍射与X射线衍射的比较54
3.2 衍射产生的条件55
3.2.1 几何条件55
3.2.2 物理条件56
3.3.1 电子衍射仪中的衍射59
3.3 电子衍射几何分析公式及相机常数59
3.3.2 透射电子显微镜中的衍射61
3.4 选区电子衍射的原理及操作63
3.5 多晶电子衍射花样及其应用65
3.5.1 多晶衍射花样的产生及几何特征65
3.5.2 多晶电子衍射花样的应用67
3.6 单晶电子衍射花样及其应用70
3.6.1 单晶电子衍射花样的几何特征和强度70
3.6.2 单晶电子衍射花样的标定方法74
3.6.3 单晶电子衍射花样的基本应用80
3.7 大量平行层错的单晶电子衍射花样85
3.7.1 HCP结构的花样特征和层错概率的计算85
3.7.2 FCC结构的花样特征和层错概率的计算91
3.8 系统倾转技术及其应用96
3.8.1 双倾台系统倾转技术96
3.8.2 电子束方向的测定97
3.8.3 重位点阵特征参数的测定98
3.8.4 三维重构法确定物相101
3.8.5 迹线分析方法104
3.9 复杂电子衍射花样的特征和标定方法109
3.9.1 具有取向关系的电子衍射花样109
3.9.2 孪晶电子衍射花样110
3.9.3 高阶劳厄花样116
3.9.4 超点阵衍射花样124
3.9.5 二次衍射花样125
3.9.6 调幅结构的电子衍射花样129
3.9.7 长周期结构的电子衍射花样130
3.9.8 菊池电子衍射花样137
参考文献144
第四章 晶体衍射中的数学处理147
4.1 取向关系的转换矩阵147
4.1.1 基体任意位向下两相取向花样的预测147
4.1.2 晶体在不同坐标下的晶向和晶面指数的转换矩阵161
4.1.3 晶体间的重位点阵164
4.1.4 孪晶关系的转换矩阵168
4.2 取向关系的理论预测176
4.2.1 原理和判据177
4.2.2 HCP/BCC体系178
4.2.3 HCP/FCC体系188
4.3 晶体对称性引起的系统消光201
4.3.1 对称元素及其对应操作的矩阵201
4.3.2 宏观对称元素的组合规律204
4.3.3 点群的推导和转换矩阵207
4.3.4 点群、晶系和布拉菲点阵之间的关系215
4.3.5 空间群中的平移对称元素217
4.3.6 等效点系219
4.3.7 二维点阵、平面点群和平面群221
4.3.8 电子衍射花样的对称性226
4.3.9 系统消光227
4.3.10 晶体对称性在结构分析中的应用举例231
参考文献237
5.1 电子像衬度的分类及其成像方法240
5.1.1 质厚衬度成像原理240
第五章 电子衍射衬度成像240
5.1.2 衍射衬度成像的原理244
5.1.3 相位衬度成像原理246
5.2 衍衬运动学理论247
5.2.1 基本假设和近似处理247
5.2.2 完整晶体衍衬的运动学方程251
5.2.3 完整晶体运动学衍衬理论的实验验证253
5.2.4 缺陷晶体衍衬的运动学理论及其应用256
5.3.1 电子的散射及其交互作用285
5.3 衍衬动力学理论(波动光学方程)285
5.3.2 完整晶体衍衬动力学方程288
5.3.3 完整晶体的动力学方程的解291
5.3.4 厚度消光和弯曲消光295
5.3.5 反常吸收效应298
5.3.6 缺陷晶体衍衬动力学方程及其应用304
5.3.7 缺陷晶体衍衬像的计算机模拟及其应用310
参考文献320
6.1 高分辨电子显微术322
6.1.1 傅里叶变换与卷积理论322
第六章 高分辨和高空间分析电子显微术322
6.1.2 高分辨像形成过程描述的两个重要函数329
6.1.3 弱相位体高分辨像的直接解释334
6.1.4 高分辨像的多层法计算机模拟341
6.1.5 高分辨像显示位错特征的方法346
6.1.6 用高分辨像确定未知晶体结构的方法349
6.2 会聚束电子衍射357
6.2.1 各种衍射方式和特点的比较357
6.2.2 会聚束电子衍射花样形成和特征358
6.2.3 HOLZ线的指标化363
6.2.4 会聚束电子衍射的应用举例363
6.3 薄膜样品的X射线能谱分析381
6.3.1 X射线固体探测器的原理381
6.3.2 薄样品成分定量分析原理及特点384
6.4 电子能量损失谱389
6.4.1 电子能量损失谱仪390
6.4.2 电子能量损失谱391
6.4.3 电子过滤成像和衍射401
6.5 分析电子显微学进展402
6.5.1 负球差系数成像技术403
6.5.2 定量扫描透射电子显微术408
6.5.3 电子全息术416
参考文献422
附录1 物理常数和换算关系424
附录2 晶体几何关系425
附录3 立方晶体的晶面(或晶向)夹角表428
附录4 面心立方、体心立方和密排六方标准电子衍射花样438
附录5 面心立方、体心立方和密排六方高阶劳厄标准电子衍射花样444
附录6 材料常见的几种结构450
附录7 立方和六方晶系的极图(c/a=1.633)451
附录8 立方晶体重位点阵特征参数之间的关系461
附录9 电子的原子散射振幅469
附录10 特征X射线的波长和能量表478
附录11 用于电子能量损失谱的电子结合能表(EELS)482
附录12 分析电子显微术的有关计算机软件484
附录出处说明489
思考题与练习题490
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